Ametek VS-SECM
מיקרוסקופ אלקטרוכימי סורק (SECM) למדידות DC ו־AC – שילוב של דיוק מיקום ומדידה לאפיון אלקטרוכימי מקומי ברזולוציה גבוהה
VersaSCAN Scanning Electrochemical Workstation היא פלטפורמה מתקדמת לביצוע מדידות אלקטרוכימיות מקומיות ברזולוציה גבוהה. המערכת משלבת טכנולוגיית מיקום מדויקת עם מכשור אלקטרוכימי מתקדם, ומאפשרת לחקור ולמפות תהליכים אלקטרוכימיים באזורים נקודתיים על פני הדגימה.
בניגוד למדידות אלקטרוכימיות מסורתיות, המספקות תגובה ממוצעת של כל ממשק האלקטרודה והאלקטרוליט, VersaSCAN מאפשרת לזהות ולנתח הבדלים מקומיים על פני הדגימה. יכולת זו חשובה במיוחד בדגימות שאינן הומוגניות וכוללות אזורים פסיביים או פעילים וכן אזורים בעלי התנהגות אנודית או קתודית.
המערכת משתמשת במנועים פיאזואלקטריים (Piezoelectric) בכל שלושת הצירים ומספקת שילוב של טווח סריקה רחב עם רזולוציית מיקום גבוהה במיוחד.
טכנולוגיית SECM – Scanning Electrochemical Microscopy מאפשרת שליטה וניטור של הפעילות האלקטרוכימית הן בדגימה והן בגשושית באמצעות Potentiostat דו־ערוצי. ממשק למדידת זרמים נמוכים מאפשר מדידות מדויקות במיוחד ורזולוציה גבוהה של תהליכים אלקטרוכימיים מקומיים.
תכונות עיקריות
טכנולוגיית SECM למיפוי אלקטרוכימי מקומי ברזולוציה גבוהה
שליטה וניטור של הדגימה והגשושית באמצעות Potentiostat דו־ערוצי
ממשק Low Current Interface למדידה מדויקת של זרמים נמוכים במיוחד
תמיכה בטכניקת AC-SECM
אפשרות STYLUS Soft Probe לסריקה במרחק קבוע וליישומים ביולוגיים
מערכת מיקום פיאזואלקטרית מדויקת בשלושת הצירים
התקנה, כיול, בדיקת ביצועים והדרכת משתמש באתר הלקוח
מערכת המיקום – VersaSCAN Base
טווח ציר X: 100mm
טווח ציר Y: 100mm
טווח ציר Z: 100mm
טכנולוגיית הנעה: מנועים פיאזואלקטריים בכל שלושת הצירים, ללא מנועי Stepper
ביצועי SECM – VersaSTAT3 / VersaSTAT3F
זרם יציאה מרבי: ±2A כסטנדרט, עם אפשרות הרחבה עד ±20A
Compliance Voltage: ±12V
יכולת EIS: עד 1MHz, אופציונלי
VersaSTAT3
טווח זרם מינימלי: ±200nA ברזולוציה של 6pA, עד ±4pA ברזולוציה של 122aA
מסנני E ו־I: 200kHz עד 1kHz
הארקה: Grounded / Earthed
VersaSTAT3F
טווח זרם מינימלי: ±4nA ברזולוציה של 122fA, עד ±4pA ברזולוציה של 122aA
מסנני E ו־I: 200kHz עד 1Hz
הארקה: Floating / Isolated
VersaSCAN מתאימה במיוחד למחקר קורוזיה, חומרים, ציפויים, תהליכים אלקטרוכימיים מקומיים, אלקטרודות ויישומים ביולוגיים הדורשים מיפוי מרחבי מדויק.